北京中科刘云涛 http://baijiahao.baidu.com/s?id=1695549630265956921&wfr=spider&for=pc
集微网消息，上海南麟电子股份有限公司（以下简称：南麟电子）日前发布公告称，子公司无锡麟聚半导体科技有限公司于年10月08日收到中华人民共和国国家知识产权局颁发的《发明专利证书》（证书号第号）。
该专利名称为“一种MCU内部定时模块的测试系统及其测试方法”，专利号为ZL10764836.3。国家知识产权局的专利摘要显示，本发明提供一种MCU内部定时模块的测试系统及其测试方法，包括MCU、开关单元和显示单元；MCU包括至少两个定时模块；每个定时模块通过复用接口控制开关单元；开关单元受控选通测试组，并改变测试组复用接口的测试连接状态；显示单元用于显示测试结果；其中，MCU基于接收的测试信号获取测试组中各定时模块的复用接口的输出信号，并对不同测试连接状态下的输出信号进行处理得到测试结果。本发明通过开关单元改变复用接口的测试连接状态，且对复用接口的输出信号进行处理就能实现对MCU内部定时模块的功能测试。本发明只需要监测MCU一些输出信号就实现定时模块的功能测试，且测试机台的无捕获配置需求，降低测试的配置需求和成本。
南麟电子在公告中指出，该项发明专利的取得体现了公司持续自主创新能力，有利于增强公司自有知识产权的保护力度，提升公司的核心竞争力。
（校对/王云朗）